品介紹&pic=http://www.bh482.cn/upload/images/site/20240521/17162563772507049.png)
Bruker Corporation 是全球領(lǐng)先的科學儀器制造商，1960年成立于德國，總部位于美國比勒瑞卡（Billerica），在瑞士設(shè)有重要研發(fā)中心。公司專注于 高端分析儀器，產(chǎn)品覆蓋納米表面科學、分子光譜、質(zhì)譜和磁共振技術(shù)，以 原子力顯微鏡（AFM） 和 X射線儀器 聞名。
Dimension Icon 是 Bruker 的 旗艦級原子力顯微鏡（AFM），提供 納米級表面形貌、力學性能和電學特性 測量，廣泛應用于材料科學、半導體、生物研究和納米技術(shù)。
| 型號 | 核心功能 | 分辨率 | 獨特技術(shù) | 典型應用 |
|---|---|---|---|---|
| Dimension Icon | 基礎(chǔ)AFM成像（接觸/輕敲模式） | 橫向<0.5 nm，縱向<0.1 nm | ScanAsyst? 自動優(yōu)化技術(shù) | 材料表面形貌、粗糙度分析 |
| Dimension Icon+ | 增強版，支持PeakForce Tapping? 和納米力學映射 | 橫向<0.5 nm | PeakForce QNM?（定量納米力學測量） | 聚合物、生物樣本的彈性/粘附性 |
| Dimension Icon-R | 電學特性擴展（導電AFM、開爾文探針力顯微鏡KPFM） | 橫向<1 nm | NanoElectrical Suite（電學測量套件） | 半導體器件、太陽能電池分析 |
| Dimension Icon-S | 高溫/低溫環(huán)境控制（-35°C ~ +250°C） | 橫向<1 nm | 閉環(huán)掃描器，溫控樣品臺 | 相變材料、納米熱學研究 |
| Dimension Icon-FIB | 聚焦離子束（FIB）集成，支持原位納米加工與AFM聯(lián)用 | 橫向<1 nm | FIB-AFM 協(xié)同工作流程 | 納米器件制備與表征 |
PeakForce Tapping?：
取代傳統(tǒng)輕敲模式，直接控制探針-樣品作用力（低至 10 pN），減少樣品損傷。
ScanAsyst? 自動優(yōu)化：
智能調(diào)節(jié)掃描參數(shù)，無需手動設(shè)置。
NanoElectrical Suite：
支持 導電AFM（C-AFM）、開爾文探針（KPFM）、壓電力顯微鏡（PFM）。
環(huán)境控制：
可選 液體池、溫控模塊、真空腔，適應生物活體或極端條件測試。
探針類型：
SCANASYST-AIR（標準硅探針）
RTESPA-300（高分辨率探針，針尖半徑<8 nm）
PFQNE-AL（PeakForce 定量納米力學探針）
軟件模塊：
NanoScope Analysis：3D形貌重建與數(shù)據(jù)分析。
NanoMan?：支持納米刻蝕與操縱。
聯(lián)用技術(shù)：
與 拉曼光譜（AFM-Raman） 或 光學顯微鏡 聯(lián)用。
半導體工業(yè)：
晶體管柵極氧化層厚度測量、缺陷定位。
生物醫(yī)學：
細胞膜力學性能、蛋白質(zhì)相互作用力映射。
能源材料：
鋰電池電極表面退化分析、鈣鈦礦太陽能電池形貌表征。
二維材料：
石墨烯、MoS? 的層數(shù)識別與電學性質(zhì)測量。
Dimension Icon 系列 是 Bruker AFM 技術(shù)的集大成者，通過 模塊化設(shè)計 滿足從基礎(chǔ)形貌到多功能物性測量的需求。
全系支持 自動化操作 和 高環(huán)境適應性，是納米科學研究與工業(yè)質(zhì)量控制的理想工具。
（注：1 nm = 10?? m；pN = 皮牛頓，10?12 N。）
其他注意事項：
更詳細的技術(shù)資料需通過提供項目詳情獲取，歡迎咨詢。
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